～最先端の表面評価技術を一挙紹介！～　表面特性評価ウェビナー

ヤマト科学株式会社 ー オックスフォード・インスツルメンツ｜無料ウェビナー ～最先端の表面評価技術を一挙紹介！～　表面特性評価ウェビナー
開催概要

半導体・電子部品・先端材料の高性能化や微細化が進む中、材料の微細構造観察、機械的特性評価、ナノスケール形状解析、分子構造解析、結晶方位解析などの高度な評価が求められています。これらの評価技術は、研究開発、材料評価、品質管理、故障解析など、様々な分野で重要性を増しています。

本ウェビナーでは、最新の表面特性評価技術として、高速・高精度なSEM、AFM、ラマン分光、ナノインデンター、EBSDをご紹介するとともに、これらの装置を活用したアプリケーションや実際の評価事例について分かりやすく解説いたします。 皆様のご参加を心よりお待ちしております。

関連製品

・走査型電子顕微鏡（SEM）
・原子間力顕微鏡（AFM）
・ラマン顕微鏡
・ナノインデンター
・電子後方散乱回折検出器（EBSD）

講演内容

講演1：「～高性能×高速化×拡張性！～最新SEMによる業務効率化のご紹介」
日本電子株式会社　SI営業本部　SI販促室　中嶌香織

講演2：「AFMとラマン顕微鏡の最新の観察・分析評価事例」
オックスフォード・インスツルメンツ株式会社　イメージング・アンド・アナリシス事業本部　山田 崇文

講演3：「～微小・薄膜試料の問題解決～　最新技術によるナノインデンテーション試験法のご紹介」
オックスフォード・インスツルメンツ株式会社　イメージング・アンド・アナリシス事業本部　倉地祥毅

講演4：「～今さら聞けないEBSD基礎講座～　EBSDによる結晶構造解析とは？」
オックスフォード・インスツルメンツ株式会社　イメージング・アンド・アナリシス事業本部　中島里絵