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原子間力顕微鏡(AFM)は、1990年代初頭の実用化以来、学術分野から産業分野まで幅広く利用されています。近年では、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、その多様な機能を活かした応用が広がっています。
本講座では、現在AFMを使用中、または今後使用を予定している研究者・技術者の皆様を対象に、京都大学名誉教授の山田啓文先生を講師にお迎えし、AFMのより深い基礎知識、派生した測定機能、最新技術や将来の可能性について、新年度も引き続き分かりやすく学んでいただきます。
多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。
第2回目のテーマは「原子間力顕微鏡の基礎 (2) – 測定感度と分解能 –」です。
3 : 00 PM (JST)
60 minutes
Language:Japanese
Businesses:Asylum Research, OI Academy
| 回・日付 | テーマ |
|---|---|
| 第1回 05/29(金) | 原子間力顕微鏡基礎 (1) – 背景とその動作基礎再び – |
| 第2回 06/26(金) | 原⼦間⼒顕微鏡基礎 (2) – 測定感度と分解能 – |
| 第3回 08/28(金) | ナノ⼒学 (1) :⼒学分光/フォースカーブ計測(Z変調動作としての視点) |
| 第4回 09/25(金) | ナノ⼒学 (2) :表⾯下計測・内部診断(⾳響散乱 vs 表⾯弾性変調) |
| 第5回 11/27(金) | 固液界⾯測定:溶媒和構造計測(内部診断との関連性) |
| 第6回 12/25(金) | AFM測定法:動的 vs 静的動作モード(パラメータ法 vs FD法) |
| 第7回 02/26(金) | 新規AFM⼿法:⾼分解能化の視点から⾒た測定(COFI法/局所化法との関連) |
| 第8回 03/26(金) | 電位・電荷計測:周波数空間における多様な変調法による電気計測 |