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原子間力顕微鏡（AFM）は、1990年代初頭の実用化以来、学術分野から産業分野まで幅広く利用されています。近年では、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、その多様な機能を活かした応用が広がっています。
本講座では、現在AFMを使用中、または今後使用予定の研究者・技術者の皆様を対象に、京都大学名誉教授の山田啓文先生を講師にお迎えし、AFMを始めそこから派生してきた測定機能の原理の理解を深めるとともに最新機能や将来の可能性について学んでいただく内容となっています。
● 深層基礎講座
（全12回・オンデマンド視聴可能）
第1・2・3回：AFMの基本原理・装置構成編
第4・7・8回：フォースカーブ・力学計測編
第5・6・9回：電気・電気機械計測編
第10・11回：応用計測編
第12回：総括
● 続編 深層基礎講座（全8回・今順次開催中）
第1回：原子間力顕微鏡基礎 (1)
– 背景とその動作基礎再び –
第2回：待続...
| 回次 | テーマ |
|---|---|
| 第1回 | 原子間力顕微鏡基礎 (1) |
| 第2回 | XXX |
| 第3回 | |
| 第4回 | |
| 第5回 | |
| 第6回 | |
| 第7回 | |
| 第8回 |
全 １２ 回 を 視 聴 す る
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