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原子間力顕微鏡(AFM)は、1990年代初頭の実用化以来、学術分野から産業分野まで幅広く利用されています。近年では、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、その多様な機能を活かした応用が広がっています。
本講座では、現在AFMを使用中、または今後使用予定の研究者・技術者の皆様を対象に、京都大学名誉教授の山田啓文先生を講師にお迎えし、AFMのより深い基礎、派生した測定機能、最新技術や将来の可能性について、新年度も引き続き分かりやすく学んでいただきます。
多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。
第1回のテーマは「原子間力顕微鏡の基礎 (1) – 背景とその動作原理の再確認 –」です。
3 : 00 PM (JST)
60 minutes
Language:Japanese
Businesses:Asylum Research, OI Academy