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開催概要
材料開発の高度化が進むなか、微細構造・元素分布・結晶方位・力学特性を統合的に評価することが求められています。
本ウェビナーでは、JFEテクノリサーチ、ZEISS、Oxford Instrumentsの3社が、それぞれの最新技術と実践的な解析事例を紹介します。SEMのポテンシャルを最大限に引き出す「Sweet Spot Imaging」、高速・広域元素分析、ライブパターンマッチングによるEBSD解析、SEM内その場力学試験、そして従来は取得が難しかったULV領域での観察を可能にする新型インレンズ検出器など、材料研究・開発および品質評価の最前線をご紹介します。
【このような方におすすめ】
■材料開発・研究部門の研究者・技術者（企業および大学・研究機関）
■電池・半導体・金属材料・電子材料開発に携わる方
■SEM・EDS・EBSDの活用レベル向上を目指す方
■分析業務の効率化やデータの高精度化に課題をお持ちの方
■品質保証・不良解析・故障解析担当者
（ただし、開催3社の競合にあたる企業関係者の方はご遠慮ください）
【本ウェビナーの注目ポイント】
① Sweet Spot Imagingによる高精細SEM観察
観察画像と分析データの両立を実現する最新SEM活用手法をご紹介。
② 高速・広域元素分析「Unity」
BEX-Imagingを活用し、欠陥・不均一性・微量元素を短時間で可視化。
③ ライブパターンマッチングによる次世代EBSD解析
従来を超える高精度な結晶方位解析を実現する最新技術。
④ In-Situ Nano Indenterによる力学特性評価
SEM観察下で変形・破壊挙動を直接評価し、EDS・EBSDとの相関解析を実現。
⑤ ZEISS最新SEMソリューション
NanoVPや新型ULV検出器の先進イメージングにより、新たな観察・分析領域を開拓。
BEX Imagingによる水電解用PTE（Ni繊維体上IrO₂触媒）の被覆状態可視化
13：30～16：30
Webセミナー（ライブ配信）
参加費：無料 (先着順での受付となります。お早めにお申し込みください）
主催・共催：
JFEテクノリサーチ株式会社
カールツァイス株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
開催日：2026年12月0２日（水）
時間：13:30～16:30（予定）
開催形式：オンライン配信（Webセミナー）
申し込み締め切り日：11/25（水）
参加費：無料（事前登録制）
1.「Microscopy for Industry - Sweet Spot Imaging -」
講師：JFEテクノリサーチ 佐藤 馨
走査電子顕微鏡(SEM) は材料科学および生命科学において不可欠な基盤技術です。SEMを高いレベルで活用するためには、細く絞った入射電子ビームだけでは不十分で、最適化された信号検出が不可欠です。Gemini カラムは独自の検出システムにより、新たな観察領域を切り開きました。JFE テクノリサーチは “Sweet Spot”イメージングを通じて高度な産業ソリューションを提供しており迅速性、定量的精度、代表性を確保するために各種分析技術をシームレスに統合しています
2.「多彩なイメージングと高精度EDSを可能にするZEISS低真空モード NanoVP」
講師：カールツァイス 小田 武秀
低真空SEM観察は低導電性試料のチャージアップ抑制に有効ですが、一次電子線の散乱による観察・EDSマップの分解能低下や、使用可能な検出器の制約が課題です。本発表では、ZEISS独自の機構により分解能を向上させた低真空モードNanoVPを紹介します。高精度EDS分析に加え、低真空環境下でインレンズ検出器を用いた多彩なイメージングの可能性について言及します。
3.「極低加速電圧イメージングの可能性を拡げる新型ULV検出器」
講師：カールツァイス 風間 大和
極低加速電圧（Ultra Low Voltage: ULV）領域でのSEM観察は、試料最表面の情報を高感度に取得できる一方、十分な信号強度やコントラストの確保が課題でした。本講演では、ULV領域に最適化された新型インレンズ検出器を中心に、従来は取得が難しかったコントラストの観察事例をご紹介します。さらに、他の検出器との同時利用によって実現する多面的な情報取得と、その活用が期待されるsweet spot imagingの新たな可能性をご提案します。
4.「Unityを用いた高速・広域元素分析の最前線と材料評価への応用 ～BEX-Imagingによる不均一性・欠陥・微量元素の可視化～」
講師：JFEテクノリサーチ 井本 浩史
SEM-EDXは、材料開発から品質管理まで広く利用される元素分析手法です。本講演では、試料直上配置型検出器「Unity」を活用した実材料解析事例を紹介し、電池材料、燃料電池部材、軽金属材料などを対象とした組成分布評価、微量不純物検出、表面・界面評価への適用例を解説します。効率的な研究開発と品質保証を支える新たな材料評価手法としての可能性を紹介します。
5.「ライブパターンマッチングが結晶方位解析を変える」
講師：オックスフォード・インストゥルメンツ 森田 博文
パターンマッチングは、ハフ変換によるEBSD解析に比較して非常に精度の高い分析結果が得られる手法です。しかしながら現在、その実行にはすべてのEBSDパターン画像の保存が必須であり、そのデータサイズは多くの制限を生んでいます。新規にリリースを予定しているライブパターンマッチングはその名の通り、測定中にパターンマッチングを実行します。この新しい手法によって、EBSD解析にどのような新しい展開が期待できるかをご紹介します。
6.「In situ Nano Indenter の世界 EDS,EBSDとの相関解析」
講師：オックスフォード・インストゥルメンツ 五十嵐 誠
NMT04は、独自のMEMS技術を活用し、ナノスケールの材料力学特性を高精度に評価できるインデンターです。SEM観察下で微小領域の硬度や弾性率を測定できるほか、マイクロピラー圧縮試験や引張試験などにも対応しており、塑性変形、亀裂進展、破壊靭性など、材料の変形・破壊挙動の解析に適しています。さらに、SEM-EDSやEBSDによる分析とナノインデンテーションを同一視野で行うことで、組成、結晶方位、結晶構造などの微細組織情報と力学特性を関連付けた複合解析が可能です。
*プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
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*本セミナーでは、Cisco Webexを使用いたします。Webexのアプリ、もしくはブラウザにてご視聴いただけます。
*ブラウザでのご視聴の場合、Google Chrome、Microsoft EdgeまたはFirefoxでの閲覧を推奨しております。
*ブラウザでのご視聴の場合、音声の設定が必要です。設定方法はこちら
*ブラウザのバージョンは、いずれも最新版をご利用ください。
*恐れ入りますが、Zoom、Teams等には対応しておりません。
株式会社 日立ハイテク
コアテクノロジー＆ソリューション事業統括本部 事業戦略本部 グローバル戦略企画一部
担当 石松
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