AFMの理解に向けた深層基礎講座「第11回」
全12回

OI Academy | Webinar
AFMによるダイナミクス計測

原子間力顕微鏡(AFM)は、1990代初期に実用化されて以降、学術研究分野に止まらず、産業分野においても幅広く利用されています。近年では試料表面の段差や粗さ測定の他、複合材料の弾性率評価や電子デバイスの電気物性など、幅広い機能を活かしてその用途が広がり、多くの研究者・技術者の方々に利用されています。

毎月末の金曜日、全12回の本講座は、AFMをご利用になられている・これから使われるご予定の研究者・技術者の方々にお役立ていただける内容を目指し、長年、AFMの装置開発とその応用をご研究されてきた京都大学名誉教授山田啓文先生を講師に迎えて、AFMを始めそこから派生してきた測定機能の原理の理解を深めるとともに最新機能や将来の可能性について学んでいただく内容となっています。

多くの皆様にAFMを深く理解いただけることを願っています。

第11回目のテーマは「AFMによるダイナミクス計測」です。

★ ダイナミクス計測の背景・基礎
★ 時間掃引法 – 時間分解測定法 –
★ 高速撮像法 – シングルショット計測 –
★ ダイナミクス計測の展開