会場開催（オフライン）

2023年11月9日（木）、日本電子株式会社とオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は、「SEM用分析装置の新提案」をテーマとしたジョイントセミナーを大阪で開催します。

ここ数年に渡り、SEM用分析装置の新しいソリューションが続々とリリースされました。

今回のセミナーではこのソリューションについて、装置と応用例をご紹介いたします。

さらにセミナー終了後は、ラボツアーとして、日本電子株式会社の新大阪ショールームをご案内させていただきます。

最新機種を直接ご覧いただくチャンスです！参加費は無料。

皆さまのお申込みをお待ちしております。

※ご好評につき満席になりました。これからお申込みされる場合は、キャンセル待ちとなります。予めご了承ください。

開催概要

開催日時：2023年11月9日（木） 

• セミナー　13：00～16：30（開場12：30）
• ラボツアー　16：30～17：00

（定員25名予定）※ご好評につき満席になりました。これからお申込みされる場合は、キャンセル待ちとなります。予めご了承ください。

テーマ：「SEM用分析装置の新提案」

会場：日本電子株式会社　西日本ソリューションセンター

〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1階

アクセス（Google Map）

• JR新大阪駅　中央口　徒歩5分
• 地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口（7番出口）徒歩2分

参加費：無料

主催：日本電子（株）、オックスフォード・インストゥルメンツ（株）

セミナーでご紹介するシステム

セミナープログラム

11月9日（木）	プログラム内容
12:30 - 13:00	会場・受付開始
13:00-13:05	開会のご挨拶
13:05 - 13:30	「世界初、高速ケミカルイメージング検出器 Unity」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 分析機器事業部】
13:30 - 14:00	「RISE SEMラマン　ラマンとSEMの完全合体」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） ビーテック事業部】
14:00 - 14:30	「広域EBSD　結晶構造および結晶方位の広領域測定」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 分析機器事業部】
14:30 - 15:00	「EBSD測定のためのCP活用事例のご紹介」 【日本電子株式会社】
15:00 - 15:20	休憩
15:20 - 15:50	「AZtecFeatureを使った自動粒子解析」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 分析機器事業部】
15:50 - 16:20	「FIB-SEM　OM400によるIn-situピックアップ Lamella裏面加工作製手法のご紹介」 【日本電子株式会社】
16:20 - 16:30	「新型SEMのご紹介　～さらなる効率アップ～」 【日本電子株式会社】
16:30 - 17:00	装置見学会 & 質疑応答

実機見学

セミナー後、日本電子株式会社 西日本ショールームの分析装置をご見学いただけます。

• EDS / EBSD
• 卓上SEM
• 卓上XRF
• 卓上型NMR

「ジョイントセミナー」ご案内PDF