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日本電子 x オックスフォード・インストゥルメンツ | ジョイントセミナー in 大阪

会場開催(オフライン)

2024年9月20日(金)、日本電子株式会社オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は、「SEM用分析装置の新提案」をテーマとしたジョイントセミナー大阪で開催します。

ここ数年に渡り、SEM用分析装置の新しいソリューションが続々とリリースされました。

今回のセミナーではこのソリューションについて、装置と応用例をご紹介いたします。

さらにセミナー終了後は、ラボツアーとして、日本電子株式会社の新大阪ショールームをご案内させていただきます。

最新機種を直接ご覧いただくチャンスです!参加費は無料。

皆さまのお申込みをお待ちしております。

開催概要

開催日時2024年9月20日(金) 

  • セミナー 13:00~16:00(開場12:30)
  • ラボツアー 16:00~17:00

定員25名予定

テーマ:「SEM用分析装置の新提案」

会場日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター

〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1階

アクセス(Google Map)

  • JR新大阪駅 中央口 徒歩5分
  • 地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口(7番出口)徒歩2分


参加費無料

主催日本電子(株)、オックスフォード・インストゥルメンツ(株)

お申込み

ジョイントセミナーに申込む

※セミナー会場のお申込みは定員を25名とさせていただきます。

本セミナーのメリット

メリットアイコン

①新しいソリューションだけでなく、実機を見学できます。

個別で日本電子と当社エキスパートによる分析相談を受けられます。お客様が抱えている課題や問題点をこの機会にぜひご相談ください。

最新カタログ、各種資料をご用意。

セミナープログラム

9月20日(金)

プログラム内容

12:30 - 13:00

開場

13:00-13:05

開会のご挨拶

13:05 - 13:30

「品質管理の救世主! 革新的なUnity検出器の応用例」

【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
分析機器事業部】

13:30 - 14:00

「EDSを使った非破壊膜厚測定(LayerProbeのご紹介と応用例)」

【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
分析機器事業部】

14:00 - 14:30


「研究開発を促進する起爆剤 ~SEM-RAMANという新しい分析解析手法~」

【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
ビーテック事業部】

14:30 - 14:45

休憩

14:45 - 15:15

「低加速SEM観察と各種分析を組合せたリチウムイオン電池解析」

【日本電子株式会社】

15:15 - 15:45

「パワー半導体素子の元素分析による立体構築および、冷却化でのLamella作成」

【日本電子株式会社】

15:45 - 16:00

「新型SEMのご紹介」

【日本電子株式会社】

16:00 - 16:55

装置見学会 & 質疑応答

展示装置:卓上SEM、W-SEM、FE-SEM、XRF、EDS、EBSD、Unity


16:55 - 17:00

閉会のご挨拶

セミナーでご紹介するシステム

  • EDSを用いた自動膜厚計算ツール LayerProbe
  • 新型BEXイメージング検出器 Unity
  • SEMラマン分析システム RISE
  • FE-SEM IT800シリーズ
  • JIB-PS500i

BEXイメージング検出器 Unity
EDSを用いた自動膜厚計算ツール LayerProbe
SEMラマン分析システム RISE

実機見学

セミナー後、日本電子株式会社 西日本ショールームの分析装置をご見学いただけます。

  • lEDS、EBSD、Unity(期間限定)
  • 卓上SEM
  • 卓上XRF
  • 卓上型NMR
      「ジョイントセミナー」ご案内PDF

      ロケーション

      日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター

      開催日

      9月20日(金)

      事業部

      NanoAnalysis, WITec | Raman

      セミナーに申込む

      ※セミナー会場のお申込みは定員を25名とさせていただきます。