見えなかった・見ていなかった表面構造を
ULV-SEM最新技術と高感度EDXでとらえる！

見えなかった・見ていなかった表面構造を
ULV-SEM最新技術と高感度EDXでとらえる！

～解析のポイントｘ顕微鏡技術ｘ革新機器が融合する～
～次世代材料解析セミナー ～

開催概要

日頃、SEM-EDXを材料開発や品質管理に対して高度に活用されているユーザー、更に高いパフォーマンスをお求めの研究者の方々を対象にウェビナーを開催します。
講演では、進化を続ける走査電子顕微鏡(SEM)とその開発の歴史、それに最適化された高感度な新型検出器(EDX)に焦点を当てます。そして、Gemini SEMが実現する「sweet spot imaging」という、画像取得と高感度元素分析を両立する手法によって、従来のSEMでは困難だった観察・分析が可能となっていることをご紹介します。また、極低加速電圧下での高分解能観察と高感度の最表面元素分析の例、広域かつ迅速分析ニーズにマッチした最新EDX技術の原理と応用についてご説明します。更に、効率的なデータ取得を実現する、画像処理を含む自動化ソリューションの事例もご紹介し、材料開発から品質管理まで、SEM-EDSの新たな可能性を共に探ります。

受講にあたってのお願い：

・同業他社様などの参加はご遠慮いただいております。
・Web会議の録画・撮影等は原則禁止となります。
・インターネット経由でのライブ中継ですので、回線状態などにより、画像や音声が乱れる場合があります。
・セミナーに対する技術的ご質問に関しては、別途ご質問いただく機会を設けます。その方法は視聴用URL送付時にお知らせします。