アプリケーション

検査・プロセス制御

関連: 半導体・マイクロエレクトロニクス・データストレージ

プロセスを弱体化させる粒子や不純物の識別、特性評価、分類

HDD用ハードウェアパーティクル分析

ハードディスクドライブのディスク故障やリードヘッドのクラッシュの最大の原因の一つは、異物や汚染粒子の存在です。これらの粒子の起源を理解することは、製品やプロセスの信頼性を確保する上で重要です。AZtecFeatureソフトウェアプラットフォームのハードパーティクル(HPA)解析モジュールを使用することで、あらゆる汚染粒子の特性を特定し分析できます。また独自手法により、粒子の形状、大きさ、化学的性質、製造プロセスの粒子の起源などが把握でき、最終製品だけでなく構成部品の品質保証も可能です。

X線イメージングは、プリント基板やバッテリーなどの多くのコンシューマー製品・部品を迅速、確実に検査するための重要な技術です。当社のX線システムと電源は、いつでもどこからでもアクセス可能な世界中のインラインシステムで活用されています。

AFM for Semiconductor and Microelectronics Research AFM Tools for Nanoscale Electrical Characterisation Process control and particle analysis Process Control and Particle Analysis

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