AFMの理解に向けた深層基礎講座「第3回」 | 全12回

OI Academy | Webinar
AFM測定雑音・感度および動作環境

原子間力顕微鏡（AFM）は、1990年代初頭に実用化されて以来、学術研究分野に留まらず、産業分野においても幅広く活用されています。近年では、試料表面の段差や粗さ測定に加え、複合材料の弾性率評価や電子デバイスの電気物性など、多様な機能を活用し、その応用範囲が拡大しており、多くの研究者・技術者の方々に利用されています。

毎月最終金曜日に開催される本講座は、AFMをご利用中の方や今後利用を予定されている研究者・技術者の方々を対象に、長年AFMの装置開発とその応用研究に従事されてきた京都大学名誉教授の山田啓文氏を講師に迎え、AFMの基本原理から派生した測定機能の理解を深めるとともに、最新機能や将来の可能性について学ぶ内容となっています。

多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。

第3回目のテーマは「AFM測定雑音・感度および動作環境」です。

★ AFMにおける測定雑音
・雑音解析の基礎、AFMにおける測定雑音要因

★ 動作モードと感度・雑音の関係
・AFMの各動作モードにおける感度・雑音特性

★ 動作環境との関係