本セミナーでは、「材料開発から不良解析まで革新的な分析法のご紹介」をテーマに、AZtecプラットフォームを中核とした最新の分析技術とその応用例をご紹介します。 電子顕微鏡におけるEDS、EBSDに加え、BEXイメージング検出器「Unity」やラマン分光などの手法を組み合わせることで、より高精度かつ多角的な材料評価が可能となります。
材料開発の初期段階における構造・組成評価から、製造現場での不良解析、さらには信頼性評価や故障要因の特定に至るまで、 幅広い解析ニーズに対応できる実践的なソリューションを、具体的な事例を交えながらご紹介いたします。
招待講演には、材料・分析分野の第一線でご活躍中の研究者をお招きし、 現場視点での知見とともに、実務に役立つ最新技術をわかりやすく解説していただきます。
開催概要
開催日:2025年7月4日(金)
参加費:無料
会場:オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
オフィスビル8階会議室(定員50名)*盛況のため定員を増やしました。
※定員になり次第、キャンセル待ちとさせていただきます。
本セミナーでは、材料開発から不良解析までの各ステージに対応する 革新的な分析手法をご紹介します。EDS・EBSD・BEXに加え、ラマン分光を含む最新のソリューションを活用し、複合的かつ実践的な解析アプローチを実例とともにわかりやすく解説します。第一線でご活躍中の研究者をお招きし、 弊社のアプリケーションスペシャリストとともに、応用事例や課題解決のポイントについて詳しくご紹介いたします。
皆様の研究や開発に役立つ最新の分析技術と知見をお届けする貴重な機会となっております。日頃の業務や課題解決に直結する内容をご用意しておりますので、ぜひこの機会にご参加ください。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
【本セミナーのお問合せ先】
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 分析機器事業部
TEL: 03-6744-4702 |E-mail: na-mail.jp@oxinst.com
※競合他社及び同業者からのお申込み等、当社の判断により、 セミナー参加をお断りする場合がありますので、あらかじめご了承ください。
ロケーション
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
開催日
2025年7月4日(金)
時間
13:00 ~ 17:30
事業部
Nano Analysis
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
〒141-0001
東京都品川区北品川5-1-18
住友不動産大崎ツインビル東館
プログラム詳細
7月4日(金) | プログラム内容 |
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13:00 ~ 13:05 | 開会挨拶 |
13:05 ~ 13:35 | AZtecLiveラインアップと新世代EDS検出器“Infinity”のご紹介およびUnityの最新分析事例1 【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)分析機器事業部】 |
13:35 ~ 14:05 | EBSD分析システムのラインアップと極微細組織解析可能なNA-TKDシステムのご紹介 【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)分析機器事業部】 |
14:05 ~ 14:35 | SEMによる複合解析は、化学状態から機械特性評価まで脈々と ~ RISE(SEM-ラマン)& Nanoindenter ~ 【オックスフォード・インストゥルメンツ(株)分析機器事業部】 |
14:35 ~ 15:00 | 休憩 |
15:00 ~ 15:45 | 招待講演 「先端SEMと最新EDSを活用した高機能材料の評価」 【JFEテクノリサーチ株式会社 分析・解析技術Division ナノ解析センター】 専門技監 名越 正泰 様 |
15:45 ~ 16:00 | 質疑応答 |
16:00 ~ 16:20 | 休憩 |
16:20 ~ 17:05 | 招待講演 「EBSD法を用いた金属組織の解析」 【金沢大学 理工研究域機械工学系】 准教授 古賀 紀光 先生 |
17:05 ~ 17:20 | 質疑応答 |
17:20 ~ 17:25 | 閉会の挨拶 |
17:30 ~ | 意見交換会および実機見学(希望者のみ) |