オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
拡張
縮小
オックスフォード・インストゥルメンツ
アプリケーション
プロダクト
NEW
イベント
お問い合わせ
IR情報
採用情報
NEW
イベント
お問い合わせ
jp
en
cn
jp
en
cn
IR情報
採用情報
About Us
当社の設備
ニュース
イベント
量産ソリューション
研究＆開発
マーケット
2D材料
生体医療デバイス
故障解析
高輝度LED
IRセンサー
レーザー
MEMSとセンサー
パワーデバイス
量子情報処理
RFデバイス
テクノロジー
Plasma Etching
Reactive Ion Etching
RIE-PE
ICP Etching
Plasma deposition
PECVD
ICPCVD
CVD
Ion beam
Ion Beam Etching
Ion Beam Deposition
Atomic scale
Atomic Layer Deposition
Atomic Layer Etching
Atomic Scale Processing
プロセス
1D materials
2D materials
Al
2
O
3
AlGaN-GaN
AlN
a-Si
Cr
Co
Diamond
DLC
GaSb
GaAs/AlGaAs
GaN
GaP
HfN
HfO
2
InP/InGaAs/InAlAs
InSb
NbN
Ni
PMMA
Pt
Si
SiC
SiGe
SiNx
SiO
2
Ta
2
O
5
TiO
2
VO
x
ZnO
More materials...
プロダクト
System Type
Clusters for device production
Clusters for research
Load Lock
Open Load
Upgrades
ICP
PlasmaPro 80 ICP
PlasmaPro 100 Cobra
PlasmaPro 100 Polaris
RIE
PlasmaPro 80 RIE
PlasmaPro 100 RIE
PlasmaPro 800 RIE
Deep Si Etch
PlasmaPro 100 Estrelas
PECVD
PlasmaPro 80 PECVD
PlasmaPro 100 PECVD
PlasmaPro 800 PECVD
PlasmaPro 1000 Stratum
ICPCVD
PlasmaPro 80 ICPCVD
PlasmaPro 100 ICPCVD
Ion Beam
Ionfab 300 IBE
Ionfab 300 IBD
Nanoscale Growth
Nanofab
ライブラリ
Videos
Webinars
White Papers
Process News
Blog
サポート
サポートオプション
チームビュワー
アップグレード
スペア
トレーニング
お問い合わせ
お問い合わせ
NEW
イベント
お問い合わせ
eコマース
Home
イベント
Plasma Technology Events
何をお探しですか？
拡張
縮小
Toggle Dropdown
その他事業部
Andor
Asylum Research
Healthcare
Imaris
Magnetic Resonance
MRI
NanoAnalysis
NanoScience
Plasma Technology
X-Ray Technology
Toggle Dropdown
アプリケーション
EV技術
LED製造・特性評価
X線回折分析
X線蛍光分析、X線撮影、CT
アグロケミカル・シード研究
アスベスト分析
エレクトロニクスX線検査
カスタムAFM開発
グラフェン・2次元 (2D) 材料
ケミカル・分子構造測定
コンポジット・構造
スペックルイメージング
ソーラー、太陽光発電、熱電
トライボロジー
ナノエレクトリカル特性
ナノマテリアルの成長と特性評価
ナノメカニカル特性
バイオMEMS
バッテリー技術
ピエゾ・強誘電体
ファブリケーション
フォース測定
フッ素分析
ポリマー
ポリマー添加剤の分析
ポリマー（高分子）の物性測定
モジュール式光学分光法
モジュール式顕微分光法
ロックコア分析
ロックストレス応答性
不正物質の高速解析
低次元構造の物性評価
偽造医薬品
充填特性評価
光学イメージングシステム
医療用X線分析
半導体・マイクロエレクトロニクス
原位置化学反応測定
品質管理・ケミカル判定
土壌・トレース分析
土壌汚染
地球近傍天体・宇宙ゴミ
大気深宇宙イメージング
太陽光発電技術
太陽天文学
太陽系外惑星探査
太陽電池｜構造特性評価
射撃残渣分析
層状高分子構造のイメージング・故障解析
摩耗分子分析（ジェットエンジン）
故障解析
検査・プロセス制御
構造部材・コンポーネント
機械・電子特性
清浄度管理
清浄度管理-自動車
環境汚染物質分析
生体分子・膜・集合体
生体材料
産業用非破壊検査
産業発電用材
磁気・データストレージ
積層造形（3Dプリンター）
細胞・組織
自動車用エンジン
自動車用センサ
自動車用タイヤ
蓄電
薄膜・コーティング
蛍光X線分析
蛍光X線膜厚測定
蛍光顕微鏡
補償光学
触媒材料の特性評価
量子伝導測定
量子光学
量子情報処理
金属清浄度
鉱物加工・ケミカル分析
電子顕微鏡
食品安全
食品科学
食品製造サプライチェーン
食品製造・土壌汚染判定
探す
もっと探す
該当ページが見当たりませんでした.
End of events.
IR
投資情報を検索する
新しくタブを開く
オックスフォード・インストゥルメンツー事業部ページ
