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Focus Editionswitec360 - Semiconductor Edition
イメージングオプションTrueSurface – トポグラフィック ラマンイメージング原子間力顕微鏡(AFM)非線形光学イメージング偏光分解顕微鏡ソリューション時間相関単一光子計数法Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)
microscope components and accesories
分光器顕微鏡コンポーネントラマン測定フィルターTruePower – レーザーパワー補正システムエンクロージャーと架台 – 環境影響の削減スキャンステージ環境制御
ソフトウェアSuite SEVEN – 測定を強力にサポートTrueMatch – ラマンスペクトルデータベースParticleScout – 粒子解析ソフトウェアWorkflow ManagerLabView™インターフェースDaVinci ナノリソグラフィー＆ナノマニピュレーション
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