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恒例となりましたジョイントセミナーを、今年度はワークショップ形式で開催いたします。 オックスフォード・インストゥルメンツからは、昨年度にスタートしたSEM用ナノインデンターをメインに、 インデンター/EBSDのデータ相互性とin-situ EBSDのご紹介を行います。 日本電子からは、インデンターを搭載する高性能&ハイスループットSEMと、 インデンター試料作成にも使用されるFIB-SEMのご紹介を行います。
当日は FE-SEM “JSM-IT710HR”の試料室内に、ナノインデンター“NMT04”を設置した
Liveデモンストレーションを実施いたします。本セミナーは現地開催のみとなります。
実機デモを見学いただける貴重な機会となっておりますので、ぜひご参加ください。
このセミナーから学べること
参加いただきたいお客様
※現在満席のため、キャンセル待ちでの受付となります。お申し込みいただいてもご参加いただけない場合がありますので予めご了承ください。 キャンセルが発生した場合はご参加いただけます
ロケーション
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
開催日
2026年7月15日(水)
事業部
NanoAnalysis
| 開催日 | 2026年7月15日(水) 13:00〜16:30 |
|---|---|
| 参加費 | 無料 |
| 会場 | 日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター 〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5丁目14-5 ニッセイ新大阪南口ビル 1階 アクセスマップ |
| 定員 | 24名（予定） ※ 定員になり次第申し込み締め切りますのでお早目にお申し込みください。 |
| お問い合わせ | 日本電子株式会社 SI営業本部 国内SI営業部 大阪SIグループ 担当者 techigo [at]jeol.co.jp ※ [at]は@に、ご変更ください。 |
| 時間 | 講演/実演内容 | 講演者 |
|---|---|---|
| 12:30〜13:00 | 受付開始 | |
| 13:00〜13:30 |
FIB-SEM JIB-PS500iの紹介 〜TEM試料作製から三次元測定まで〜 |
日本電子株式会社
SI事業部門 EP事業ユニット EP企画部 柴田 昌照 |
| 13:30〜14:00 |
高性能＆ハイスループットSEM 〜JSM-IT510/710HR/810シリーズのご紹介〜 |
日本電子株式会社
SIグローバル本部 SI販売促進室 中嶌 香織 |
| 14:00〜14:30 | “見ながら押す” In-SEM Nanoindenterのご紹介 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部 アプリケーショングループ 中島 里絵 |
| 14:30〜14:45 | 休憩 | |
| 14:45〜15:15 | in-situ EBSD測定とAZtecCrystal新機能のご紹介 |
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部 アプリケーショングループ 五十嵐 誠 |
| 15:15〜16:30 |
実機見学 SEM：JSM-IT710HR / ナノインデンター：NMT04 |
|
| 16:30〜 | 閉会 |
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