13:30～13:35

開会挨拶

髙橋 清人

日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部
本部長

13:35～13:55

電池材料・電子部品材料のX線回折による最新の評価方法

X線回折法やX小角散乱法は、電池材料・電子部品材料の研究開発や品質管理に広く使用されています。リガクでは新しい光学素子や解析法を開発し、今まで解析困難であった材料に対してもこれらの手法を適用できるようにしました。本セミナーでは、主に多目的X線回折装置であるSmartLabを用いたBaTiO₃粉末の格子定数・結晶子サイズ・粒径などの解析の他、リチウムイオン電池のオペランド測定やナノ粒子のPDF解析についても紹介します。

講師

長尾 圭悟

株式会社リガク
X線機器事業部
応用技術センター
粉末・薄膜解析グループ
グループマネージャー

13:55～14:15

有機・無機機能性材料の電子回折システムSynergy-EDによる三次元分子構造の決定

電子線と物質の相互作用はＸ線の数万倍強いため、電子回折ではナノ結晶での三次元分子構造の決定が可能です。この結果、Ｘ線回折と電子回折を合わせると、結晶の大きさという点での制約が事実上なくなるため、単結晶構造解析の適用範囲は大幅に拡大することができます。本発表では、有機ELや半導体材料である機能性有機材料や、二次電池の正極材などの無機材料について、極微小結晶により結晶構造を決定した例を紹介いたします。

講師

山野 昭人

株式会社リガク
応用技術センター

14:15～14:35

SEM-EBSD法の基礎と活用法

SEM-EBSD法として知られているEBSD法は、SEM付属の高感度CMOS検出器を用いて、電子線回折の菊池パターンからサブミクロンの領域の材料の結晶方位を指数付けする分析方法である。電子線を走査できるSEMの特長を活かして結晶方位のマップが収集できるため、材料の結晶学的特性の分析や方位差を用いたひずみの推定など多くの活用法がある。

講師

森田 博文

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
分析機器事業部
技術部

14:35～14:55

TEMを用いたナノ材料の結晶方位解析の紹介

ASTAR法は、TEM回折パターンを用いてEBSD法と同様の結晶方位マップの作成を可能としました。TEM回折パターンは1-2 nmφに絞った照射電子線でも十分に得られることから、5 nm程度の結晶粒の認識も可能となります。また相分離性もおいても優れた特性を示しています。これによりSEM/EBSD法では困難であった半導体素子をはじめとするナノ材料の組織解析において大きな成果が出始めています。本セミナーでは、ASTAR法の原理とその応用事例を紹介します。

講師

鈴木 清一

株式会社TSLソリューションズ
代表取締役

14:55～15:00

閉会挨拶

宮島 孝行

株式会社リガク
取締役　営業本部長